作为扭曲铜氧化物双层膜拓扑探针的边缘电流

由高 $T_c$ 铜氧化物超导体 Bi$_2$Sr$_2$CaCu$_2$O$_{8+x}$ 组装且扭转角接近 $45^circ$ 的双层膜，最近被证明会自发打破时间反演对称性 $\mathcal{T}$，这与此类扭曲 $d$ 波超导体中涌现的手性拓扑 $d_{x^2-y^2}+id_{xy}$ 相的理论预测一致。在此，我们使用一个最小微观模型来估计在 $\mathcal{T}$ 破缺相中预期出现的自发手性边缘电流的大小。与先前关于手性 $d$ 波超导体的理论研究一致，我们发现边缘电流虽小但非零，我们预测其仍高于最先进的磁扫描探针显微镜的检测阈值。此外，通过推导边缘电流与电子谱函数之间的简单关系，我们有助于阐明手性 $d$ 波与 $p$ 波超导体中边缘电流大小之间长期存在的差异。