E-FuzzEdge：利用可扩展的原位模糊测试优化嵌入式设备安全性
密码学与安全
2025-10-03 v1
摘要
在本文中，我们展示了 E-FuzzEdge，一种新颖的模糊测试架构，旨在提高无法实现可扩展性的场景下模糊测试活动的吞吐量。E-FuzzEdge 通过优化执行速度，解决了微控制器硬件在环模糊测试的效率低下问题。我们针对最先进的基准测试评估了我们的系统，证明了其显著的性能提升。E-FuzzEdge 架构的一个关键优势在于，它与执行设备上测试而非固件仿真的其他嵌入式模糊测试技术兼容。这意味着，更广泛的嵌入式模糊测试社区可以将 E-FuzzEdge 集成到其工作流程中，以提高整体测试效率。
引用
@article{arxiv.2510.01393,
title = {E-FuzzEdge: Optimizing Embedded Device Security with Scalable In-Place Fuzzing},
author = {Davide Rusconi and Osama Yousef and Mirco Picca and Flavio Toffalini and Andrea Lanzi},
journal= {arXiv preprint arXiv:2510.01393},
year = {2025}
}