双解耦学习与度自适应阈值化用于半监督多标签学习
机器学习
2024-12-30 v2
摘要
半监督多标签学习(SSMLL)是一种强大的框架,可用于通过利用无标签数据来降低收集精确多标签标注的高昂成本。不同于半监督学习,SSMLL 不能选择最可能的标签作为伪标签,因为实例包含多个语义。为解决此问题,主流方法开发了有效的阈值策略以生成准确的伪标签。然而,该方法忽略了模型预测质量及其对伪标签化性能的潜在影响。本文提出了一种双视角方法以生成高质量的伪标签。为提高模型预测质量,我们进行双解耦以提升相关特征和判别特征的学习,同时优化伪标签的生成与利用。为获得适当的类别阈值,我们提出了度自适应阈值化策略以估计这些阈值,从而最大化给定指标在标记数据上的伪标签性能。在多个基准数据集上的实验表明,所提方法可实现最佳性能,并以显著优势超过比较方法。
引用
@article{arxiv.2407.18624,
title = {Dual-Decoupling Learning and Metric-Adaptive Thresholding for Semi-Supervised Multi-Label Learning},
author = {Jia-Hao Xiao and Ming-Kun Xie and Heng-Bo Fan and Gang Niu and Masashi Sugiyama and Sheng-Jun Huang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2407.18624},
year = {2024}
}
备注
Published in ECCV 2024