通过经典测量直接高分辨率表征量子关联

量子光学在研究量子力学基本概念和开发新技术应用方面发挥着核心作用。典型实验利用参数过程产生的非经典光，如纠缠光子对。通过量子层析技术对源进行标准表征依赖于探测光子对本身，因此需要单光子探测器，这限制了测量速度和精度。在此，我们展示了由双光子源产生的量子关联的光谱表征可以直接以经典方式完成，并具有前所未有的光谱分辨率。这种 streamlined 技术通过提供快速可靠的质量控制程序，有望加速大规模并行集成源的设计和测试。将我们的方法适配以探索其他自由度，将能够实现对参数过程产生的双光子态的完整表征。