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第四代马约拉纳中微子暗物质的直接探测

高能物理 - 唯象学 2012-12-13 v1

摘要

重而稳定的第四代马约拉纳中微子构成了宇宙中暗物质 (DM) 遗留密度的一小部分。由于其与标准模型粒子的耦合相对较强,即使它是晕暗物质的次主导成分,当前的直接和间接暗物质探测实验仍可对其进行探测。我们表明,当前的 Xenon100 数据将稳定马约拉纳中微子的质量限制为大于顶夸克质量。预测的中微子与核子弹性散射的有效自旋无关截面约为 1.5×1044cm2\sim 1.5\times 10^{-44} cm^2,该值对中微子质量和混合不敏感,且可在不久的将来被直接暗物质探测实验达到。在相同的质量区域内,预测的重中微子与质子散射的有效自旋相关截面范围为 2×1040cm22×1039cm22\times 10^{-40} cm^2\sim 2\times 10^{-39} cm^2,这在正在进行的暗物质间接搜索实验的探测范围内。我们在一个第四代模型中展示了重中微子暗物质的这些特性,其中第四代马约拉纳中微子的稳定性由无反常的 U(1) 规范对称性所保护。

关键词

引用

@article{arxiv.1212.2749,
  title  = {Direct detection of fourth generation Majorana neutrino dark matter},
  author = {Yu-Feng Zhou},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1212.2749},
  year   = {2012}
}

备注

11 pages. 4 figures. Invited talk at VIII International Workshop on the Dark Side of the Universe, June 10-15, 2012, Rio de Janeiro, Brazil