铋基拓扑绝缘体中对类轴子粒子的直接探测
高能物理 - 唯象学
2018-08-29 v1
摘要
近年来暗物质领域兴起了一个新方向，并立刻吸引了大量理论家和实验家，即电子系统中的轻暗物质直接探测。该现象类似于暗物质与原子核弹性散射中的核反冲，但运动学不同。由于能隙小，电子系统可探测亚 GeV 暗物质而非核靶。特别是材料中的吸收甚至可探测质量约 meV 的超大质量暗物质。基于光学电导率与吸收截面的等价性，可在铋基拓扑绝缘体中计算轴子探测。研究发现拓扑绝缘体对轴子有强灵敏度，并为超导体和半导体提供了互补的直接探测。拓扑绝缘体的新颖之处在于其薄膜甚至可获得与超导体相同的灵敏度。
引用
@article{arxiv.1807.11757,
title = {Direct Detection of Axion-Like Particles in Bismuth-Based Topological Insulators},
author = {Tairan Liang and Bin Zhu and Ran Ding and Tianjun Li},
journal= {arXiv preprint arXiv:1807.11757},
year = {2018}
}
备注
7 pages, 2 figures, matches published version in IJMPA