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银道面 l=36° 至 44° 之间的弥漫性射电复合谱线辐射

星系天体物理 2009-12-14 v1

摘要

射电复合谱线(RRLs)可用于明确测定银道面方向的发射度量。我们利用深度(每波束2100秒)的HI帕克斯避让区巡天数据,该数据在其带宽内包含三条RRLs(H166α166\alpha、H167α167\alpha和H168α168\alpha)。选取区域=36\degr\ell = 36\degr44\degr44\degrb=4\degrb = -4\degr+4\degr+4\degr,以涵盖来自本地臂、人马臂和盾牌臂的辐射。构建了一个以(,b)=(40\degr,0\degr)(\ell, b) = (40\degr, 0\degr)为中心的8\degr×8\degr8\degr \times 8\degr数据立方体,包含速度分辨率为27\kms\kms、空间分辨率为15.5角分的RRL光谱。识别了著名的HII区以及银道面上的弥漫性RRL辐射。银道面综合RRL辐射的银纬剖面描绘了亮度温度(TbT_{b})分布,其银纬半功率宽度约为1\fdg5\simeq 1\fdg5。通过与WMAP自由-自由MEM模型比较,推导出电子温度Te8000T_{e} \simeq 8000 K。将当前RRL数据的TbT_{b}分布与WMAP 5年数据结合,以推导银脊上的反常尘埃。本文证明,利用ZOA巡天的RRLs可以恢复银脊上的弥漫电离辐射。因此,该方法能够补充低银纬地区的Hα数据,从而推导出全天自由-自由模板。

关键词

引用

@article{arxiv.0912.2290,
  title  = {Diffuse RRL emission on the Galactic plane between l=36 to 44 degrees},
  author = {Marta I. R. Alves and Rodney D. Davies and Clive Dickinson and Richard J. Davis and Robert R. Auld and Mark Calabretta and Lister Staveley-Smith},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0912.2290},
  year   = {2009}
}

备注

17 pages, 17 figures