与铁磁金属相互作用导致的二色性腔模劈裂与寿命

我们研究了铁磁金属（FM）对电磁腔圆偏振模式的影响，并表明时间反演对称性的破缺导致了腔模的二色性响应。在存在一个自旋劈裂能带的情况下，FM电子与腔模之间的塞曼耦合会导致模式频率在接近自旋劈裂能时出现反交叉。然而，这仅对其中一个圆偏振模式成立，而另一个模式不受FM影响，从而允许通过偏振依赖的透射实验来确定FM的自旋劈裂。此外，我们表明，对于两个自旋劈裂能带，腔模的寿命也表现出偏振依赖的响应。光子寿命的变化可以理解为由于与具有相同波矢的连续斯通纳模式发生能级吸引而导致的抑制。仅一种偏振模式寿命的缩短，可能被用于设计和调控圆偏振腔。