用于扩展与弥散源的小型HAPG晶体Von Hamos X射线谱仪的开发
仪器与探测器
2019-03-08 v1 光学
摘要
布拉格谱学是建立最完善的高能分辨X射线测量实验方法之一;然而,该技术仅限于测量来自准直良好(数十微米)或点状源的光子,对于来自扩展与弥散源的光子效率很低。当预期信号速率较低且单次角扫描需要长时间曝光时,对多个能量同时进行测量的需求极为迫切。VOXES合作组在INFN弗拉斯卡蒂实验室开发了一种可同时适用于扩展各向同性源的高分辨高精度X射线谱仪原型,其采用高度退火热解石墨(HAPG)晶体置于半Von Hamos构型中,其中位置探测器相对于标准Von Hamos构型旋转,以增大动态能量范围。其目标是提供一种经济高效的系统,对约2 keV至数十keV的X射线能量具有eV级能量分辨率,并能够对非点状源进行亚eV精度测量。所提出的谱仪在多个领域具有潜在应用,从基础物理到量子力学检验、同步辐射与X-FEL应用、天文学、医学及工业。特别是,该技术对于一系列核物理测量至关重要,例如奇异原子辐射跃迁的能量可用于提取低能QCD奇异数扇区的基本参数。本工作中介绍了该谱仪的工作原理,以及针对Fe(Kα1,2)、Cu(Kα1,2)、Ni(Kβ)、Zn(Kα1,2)、Mo(Kα1,2)和Nb(Kβ)谱线在分辨率和源尺寸方面获得的测试与结果。
引用
@article{arxiv.1903.02826,
title = {Development of a compact HAPG crystal Von Hamos X-ray spectrometer forextended and diffused sources},
author = {A. Scordo and C. Curceanu and M. Miliucci and F. Sirghi and J. Zmeskal},
journal= {arXiv preprint arXiv:1903.02826},
year = {2019}
}