存在再散射效应时确定弱相位 $\gamma$

我们提出了一种新技术，在不忽略（软）末态再散射效应的情况下确定 CKM 相位 $\gamma$。我们使用了（时间积分的）B 介子到 $\pi$ 和 $K$ 的衰变率。一组 5 个 $\Delta S = 0$（或 1 个 $\Delta S =0$ 和 4 个 $\Delta S= 1$）衰变率被用于计算作为 $\gamma$ 函数的树图和企鹅贡献的强相位与大小。这些被用来（利用 SU(3) 对称性）作为 $\gamma$ 的函数预测一个 $\Delta S = 1$ $(\Delta S = 0)$ $B_{d/s}$ 衰变率。随后对该衰变率的测量即可给出 $\gamma$。我们用不同的情况说明了该技术。我们使用的大多数衰变模式预计将在 B 工厂（$e^+ e^-$ 或强子机器）上可及。