通过特征X射线探测确定反应截面：169Tm上的α诱导反应用于天体物理γ过程
核实验
2015-03-17 v1
摘要
首次使用新方法测量了169Tm(α,γ)173Lu和169Tm(α,n)172Lu反应的截面，该方法通过探测172,173Lu电子俘获衰变后发出的特征X射线辐射。尽管反应产物的半衰期相对较长（分别为500天和6.7天），但仍能在质心能量13.16至17.08 MeV范围内，测量到接近伽莫夫窗口（T9 = 3.5 GK）的169Tm(α,γ)173Lu反应截面。169Tm(α,n)172Lu反应截面在质心能量11.21 MeV至17.08 MeV范围内进行了测量。实验结果与理论预测进行了比较。
引用
@article{arxiv.1012.0660,
title = {Determining reaction cross sections via characteristic X-ray detection: {\alpha}-induced reactions on 169Tm for the astrophysical {\gamma} -process},
author = {G. G. Kiss and T. Rauscher and T. Szücs and Zs. Kertész and Zs. Fülöp and Gy. Gyürky and C. Fröhlich and J. Farkas and Z. Elekes and E. Somorjai},
journal= {arXiv preprint arXiv:1012.0660},
year = {2015}
}