单掩模边缘照明 X 射线相位对比成像应用的探测器要求
医学物理
2017-09-27 v1 应用物理
仪器与探测器
摘要
边缘照明（EI）是一种非干涉式 X 射线相位对比成像（XPCI）方法，由于其放宽的相干性要求，已成功在常规多色源上实现。与其他 XPCI 方法一样，EI 能够提取吸收、折射和超小角 X 射线散射（USAXS）信号。然而，当前的提取算法需要三幅输入帧，迄今为止这些帧是在同样多的不同照明条件下，通过单独曝光获取的。这些照明条件可以通过以不同方式故意使装置失准来实现。随后，这些失准配置中的每一种均可用于记录包含吸收、折射和散射信号混合的帧。然而，这种采集方案涉及较长的曝光时间，这也可能给提取的信号引入误差。迄今为止，这些误差已通过仔细的图像采集与分析得到缓解。然而，进一步减少图像采集时间以及因样品掩模/样品移动引起的误差，可以增加 EI 技术提供的优势，并使其能够针对更具挑战性的应用。在本文中，我们描述了两种利用最先进探测器技术实现单次曝光多模态成像的简化装置。
引用
@article{arxiv.1709.09005,
title = {Detector requirements for single mask edge illumination x-ray phase contrast imaging applications},
author = {G. K. Kallon and F. A. Vittoria and M. Endrizzi and P. C. Diemoz and C. K. Hagen and A. Zamir and D. Basta and A. Olivo},
journal= {arXiv preprint arXiv:1709.09005},
year = {2017}
}
备注
10 pages, 5 figures, Position Sensitive Detectors 11 conference