正烷烃从石墨烯上的脱附：一项 van der Waals 密度泛函研究

近期对沉积在 Pt(111) 上的 C(0001) 表面小分子正烷烃（$C_NH_{2N+2}$）的程序升温脱附（TPD）测量研究表明，脱附能与正烷烃链长的增加呈线性关系。本文采用 van der Waals 密度泛函方法研究了十种最小正烷烃（$N = 1$ 至 $10$）从石墨烯上的脱附势垒能。我们发现其随 $N$ 呈线性标度关系，且与能量轴存在非零截距，即在外推至 $N = 0$ 时存在偏移量。该计算所得偏移量在数值上与 TPD 测量结果定量相似。通过对聚乙烯聚合物的进一步计算，我们对该偏移量的来源提出了解释。