不同长度 SEC-DED 与 SEC-DED-DAEC 码的设计
硬件体系结构
2020-02-19 v1
摘要
可靠性是通信与存储系统的一项重要要求。由于技术的持续微缩，多位相邻比特出错概率增加。数据可能因软错误而损坏。纠错码用于检测并纠正错误。本文提出了不同数据长度的单错纠正-双错检测(SEC-DED)与单错纠正-双错检测-双相邻错纠正(SEC-DED-DAEC)码的设计。所提 SEC-DED 与 SEC-DED-DAEC 码相比现有编码方案需要更低的延迟与功耗。给出了所提与现有码在逻辑门数量上的面积复杂度。基于 ASIC 的综合结果显示相比现有 SEC-DED 码有显著降低。所有编解码架构均在 ASIC 平台上综合。不同 SEC-DED-DAEC 码的性能以面积、功耗和延迟列表给出。
引用
@article{arxiv.2002.07507,
title = {Design of SEC-DED and SEC-DED-DAEC Codes of different lengths},
author = {Sayan Tripathi and Jhilam Jana and Jaydeb Bhaumik},
journal= {arXiv preprint arXiv:2002.07507},
year = {2020}
}
备注
10 pages