应用于聚变级装置的超高带宽第六阶段对比成像系统的设计考量

PCI 诊断是一种内部参考干涉仪，可沿探测光束视线积分生成绝对校准的电子密度涨落图像。尽管全球聚变实验上安装的传统 PCI 诊断采用波长为 10.59 $\mu$~m 的光，但使用波长 1.55 $\mu$~m 光的相同系统会将波数与频率的频谱响应分别扩展 7 倍和一百倍以上，从而潜在地提供由湍流或射频波引起的密度扰动内部结构的定量测量，同时覆盖从离子到电子回旋半径尺度直至 GHz 频域。基于先前开发的 1.55 $\mu$~m PCI 原型系统，本文给出此类诊断在聚变级装置中设计的约束条件，并与传统方法所面临的约束进行比较。