用于消色差计算成像的扩展焦深超透镜设计与分析
光学
2021-07-01 v1 图像与视频处理
摘要
超表面光学已展现出以超紧凑和轻量化形式实现传统光学元件的巨大潜力。然而，被称为超透镜的元表面透镜存在严重的色差，对其实际应用造成了严重限制。现有通过色散工程规避此类像差的方法局限于小孔径，且常需每个单元内多个散射体及小特征尺寸。在此，我们提出一种替代技术来缓解色差，并利用扩展焦深（EDOF）超透镜与计算重建实现了高质量全彩成像。先前的EDOF超透镜依赖于三次相位掩模，会在图像中引入非对称伪影，而本文展示了对称相位掩模（包括对数非球面掩模和偏移轴锥掩模）的使用可改善后续图像质量。我们的工作将启发超越色散工程的消色差超透镜的进一步发展，并为混合光-数字元表面系统开辟新的研究途径。
引用
@article{arxiv.2003.09599,
title = {Design and Analysis of Extended Depth of Focus Metalenses for Achromatic Computational Imaging},
author = {Luocheng Huang and James Whitehead and Shane Colburn and Arka Majumdar},
journal= {arXiv preprint arXiv:2003.09599},
year = {2021}
}