利用扫描介电显微镜对金属纳米线聚合物纳米复合材料进行深度成像
介观与纳米尺度物理
2021-11-23 v1
摘要
基于金属纳米线的聚合物纳米复合材料作为透明柔性电极或用于生物传感的可拉伸导体与介电体而被广泛研究。本文表明，扫描介电显微镜（SDM）能够以非破坏性方式对纳米复合材料中金属纳米线的深度分布进行成像。这是通过对 subsurface 静电作用力显微镜测量进行定量分析并结合有限元数值计算实现的。作为一个应用，我们测定了在 100-250 nm 厚明胶薄膜中直径约 50 nm 的银纳米线的三维空间分布。表征分别在干燥环境（明胶介电常数较低，epsilon 约 5）和潮湿环境（其介电常数增至 epsilon 约 14）下进行。本结果表明，SDM 可成为一种有价值的用于纳米线基纳米复合材料的非破坏性 subsurface 表征技术，有助于优化这些材料在可穿戴电子、太阳能电池技术或可印刷电子等领域的应用。
引用
@article{arxiv.2111.10843,
title = {Depth mapping of metallic nanowire polymer nanocomposites by scanning dielectric microscopy},
author = {H. Balakrishnan and R. Millan-Solsona and M. Checa and R. Fabregas and L. Fumagalli and G. Gomila},
journal= {arXiv preprint arXiv:2111.10843},
year = {2021}
}