用于直接探测MeV暗物质粒子的DEPFET探测器
仪器与探测器
2017-12-12 v2 宇宙学与河外天体物理
天体物理仪器与方法
摘要
暗物质的存在无可争议，但其本质仍然未知。用存在一种新的未观测粒子来解释暗物质，是最有希望的解决方案之一。近年来，MeV质量区域的暗物质候选者受到越来越多的关注。与几个GeV到几个TeV的质量区域相比，该区域在实验上很大程度上尚未被探索。我们讨论了将RNDR DEPFET半导体探测器应用于MeV质量区域暗物质直接搜索的方案。我们介绍了RNDR DEPFET器件的工作原理，并回顾了先前原型测量所获得的性能。讨论了该技术作为暗物质探测器的未来潜力，并给出了使用RNDR DEPFET传感器探测MeV暗物质的灵敏度。在感兴趣区域内有三个本底事件、曝光量为1 kg·y的假设下，对于质量为10 MeV的暗物质粒子，可以达到σ̄ₑ = 10⁻⁴¹ cm²的灵敏度。
引用
@article{arxiv.1706.08666,
title = {DEPFET detectors for direct detection of MeV Dark Matter particles},
author = {Alexander Baehr and Holger Kluck and Jelena Ninkovic and Jochen Schieck and Johannes Treis},
journal= {arXiv preprint arXiv:1706.08666},
year = {2017}
}
备注
submitted to EPJC