在低维系统中利用电子透镜演示电子聚焦
介观与纳米尺度物理
2020-02-14 v1
摘要
我们报道了n型GaAs中一种全电集成电子聚焦透镜。结果表明，当焦点与片上探测器对齐时出现明显的聚焦峰。聚焦峰的强度与半高全宽（FWHM）与注入电子的准直性相关。为证明所报道的聚焦透镜可作为一种有用工具，我们借助聚焦透镜研究了非对称栅压偏置量子点接触的特性。观察到低电导区间电导异常的出现与聚焦峰FWHM增大之间存在关联。该关联可能源于电子-电子相互作用。所报道的电子聚焦透镜对更先进的电子光学器件至关重要。
引用
@article{arxiv.2002.04307,
title = {Demonstration of electron focusing using electronic lenses in low-dimensional system},
author = {Chengyu Yan and Michael Pepper and Patrick See and Ian Farrer and David Ritchie and Jonathan Griffiths},
journal= {arXiv preprint arXiv:2002.04307},
year = {2020}
}