超薄铜纳米线中的缺陷
材料科学
2009-11-07 v1
摘要
我们对含缺陷的圆柱形多壳(CMS)型铜纳米线进行原子尺度模拟。我们的研究发现了以往无缺陷纳米线研究中未检测到的一些物理性质。由于 CMS 型纳米线核心处的空位形成能最低，纳米线外壳中形成的空位会自然迁移 toward 核心。使用 16-11-6-1 纳米线模型了 CMS 型纳米线表面附着原子形成能的峰值。当 CMS 型纳米线直径大于或小于峰值能量最大值直径时，附着原子的形成能会减小。本研究发现了三种空位-附着原子对的再组合机制：(i) 通过直接再组合，(ii) 通过踢入再组合，和 (iii) 通过环形再组合。空位形成能计算表明形成了空心的洋葱样簇，分子动力学模拟 various CMS 型纳米线发现空位向核心迁移。基于此，我们获得了形成空心 CMS 型金属纳米线(金属纳米管)的基本信息[ Y. Oshima 等, 《Phys. Rev. B 65, 121401 (2002)》]。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0207119,
title = {Defects in ultrathin copper nanowires},
author = {Jeong Won Kang and Jae Jeong Seo and Ki Ryang Byun and Ho Jung Hwang},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0207119},
year = {2009}
}