瞬变源Swift UVOT棱栅观测的去污染
天体物理仪器与方法
2016-04-27 v1
摘要
我们提出了一种对瞬变天体的Swift UVOT棱栅光谱进行去污染的新技术。我们描述了成功实施经验去污染技术所需的模板图像要求和图像处理步骤。我们通过将SN 2011fe的光谱与来自哈勃空间望远镜空间望远镜成像光谱仪的良好校准的长缝紫外光谱进行比较，证明了去污染光谱的通量和波长校准的准确性。我们还展示了去污染如何从iPTF14bdn的光谱中去除伪发射线，否则这些发射线可能被误解释为来自超新星。简要讨论了实现该技术的软件，并可供社区使用。
引用
@article{arxiv.1512.02638,
title = {Decontaminating Swift UVOT Grism Observations of Transient Sources},
author = {Michael T. Smitka and Peter J. Brown and Paul Kuin and Nicholas B. Suntzeff},
journal= {arXiv preprint arXiv:1512.02638},
year = {2016}
}
备注
26 pages, 11 figures, accepted to PASP. Astrophysics Source Code Library: 2015ascl.soft09005S