基于虚拟中子的飞行时间小角中子散射数据还原
仪器与探测器
2017-01-17 v1 数据分析、统计与概率
摘要
小角中子散射（SANS）是一种探测纳米至微米尺度材料结构的实验技术。由SANS构建的结构模型的求解强烈依赖于还原数据的精度。飞行时间（TOF）SANS数据依赖于脉冲中子源的波长。因此，必须非常谨慎地处理数据还原，以将测得的中子事件转换为中子散射强度。在本研究中，利用虚拟中子实验的模拟数据，开发并优化了针对TOF SANS数据的还原算法。系统地研究了每种可能对测量数据产生影响的因素，并进行了适当的校正以获得高质量数据。本工作将促进中国散裂中子源的科学研究与仪器设计。
引用
@article{arxiv.1701.04153,
title = {Data Reduction for Time-of-Flight Small-Angle Neutron Scattering with Virtual Neutrons},
author = {Rong Du and HaoLai Tian and TaiSen Zuo and Ming Tang and LiLi Yan and JunRong Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1701.04153},
year = {2017}
}
备注
25 pages, 15 figures, 1 table