Suzaku XIS 堆积效应面向数据的诊断
天体物理仪器与方法
2015-06-03 v1 高能天体物理现象
摘要
我们展示了 Suzaku 天文台搭载的 X 射线成像光谱仪（一种 X 射线 CCD 仪器）中观测到的堆积现象的系统研究结果。利用宽范围亮度和光谱硬度的观测源数据集，我们表征了每像素帧中堆积分数、光谱硬化和等级迁移随观测计数率的变化。以堆积分数作为堆积程度的度量，我们发现，尽管样本源的亮度和硬度各异，但相对光谱硬化（归一化到本征光谱硬度的硬度比）、分裂事件的分支比以及分离事件的分支比均随堆积分数的增加而单调增加。我们推导了用于事件提取的半径作为函数的堆积分数。基于实际考虑，我们发现堆积分数为 1% 或 3% 的半径之外的事件可用于光谱分析。我们提供了相关的图表、表格和软件，以方便希望将我们的方法应用于堆积源数据还原的用户。
引用
@article{arxiv.1112.1844,
title = {Data-oriented Diagnostics of Pileup Effects on the Suzaku XIS},
author = {Shin'ya Yamada and Hideki Uchiyama and Tadayasu Dotani and Masahiro Tsujimoto and Satoru Katsuda and Kazuo Makishima and Hiromitsu Takahashi and Hirofumi Noda and Shunsuke Torii and Soki Sakurai and Teruaki Enoto and Takayuki Yuasa and Shu Koyama and Aya Bamba},
journal= {arXiv preprint arXiv:1112.1844},
year = {2015}
}
备注
13 pages, 8 figures, pileup issues on the Suzaku XIS