银河系晕中的暗物质衰变

暗物质可能通过X射线衰变被探测到，包括构成银河系晕的暗物质粒子的衰变。我们使用一系列密度轮廓计算X射线线强度轮廓，重点关注共振产生的惰性中微子暗物质候选者。与Navarro-Frenk-White密度轮廓相比，我们表明使用绝热收缩的晕轮廓会抑制晕外围的线强度，并增强银心处的线强度，尽管这种增强可能被3 kpc内可能存在的核心所消除。将我们的结果与银河系晕观测、其他X射线观测以及结构形成约束进行比较，意味着惰性中微子混合角参数$s_{11}\equiv\sin^{2}(2\theta)\times10^{11}\sim[3,4]$（粒子寿命$\tau_{28}\equiv\tau/(10^{28}\mathrm{sec})\sim[1.0,1.3]$），但这与一些报告的非探测结果存在强烈矛盾。我们预测了XRISM卫星在银心以及室女座和英仙座星系团中可能测量的衰变通量，并概述了进一步确定暗物质是否确实是共振产生的惰性中微子（如X射线衰变所探测到的）的步骤。