多阶段制造系统（MMS）中的信息物理污点分析：案例研究
密码学与安全
2021-09-28 v1
摘要
信息流是多阶段制造系统（MMS）的内在属性。在计算机安全领域，一种基本的信息流追踪技术是动态污点分析（DTA）。DTA追踪污点从一个数据变量（例如，一个保存HTTP请求的缓冲区）到另一个变量的传播。污点传播路径通常由计算机程序中的数据流和隐式流决定。所有污点传播路径的并集构成污点图。显然，污点图可以显著增强入侵诊断。然而，现有的DTA技术无法直接用于MMS，主要原因如下：没有制造特定的污点传播规则，DTA无法实施。在这项工作中，我们进行了一项案例研究，该研究（a）使用制造特定的污点传播规则扩展了现有的DTA方法，并（b）应用扩展后的方法在一个小规模测试平台上进行初步的入侵诊断。
引用
@article{arxiv.2109.12774,
title = {Cyber-Physical Taint Analysis in Multi-stage Manufacturing Systems (MMS): A Case Study},
author = {Tao Liu and Bowen Yang and Qi Li and Jin Ye and Wenzhan Song and Peng Liu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2109.12774},
year = {2021}
}
备注
12 pages, 6 figures