使用全局拟合方法测量高$p_T$双电子最终态过程的横截面

我们提出了一种新方法，用于研究高$p_T$双电子事件($e^{\pm}e^{\mp}$, $\mu^{\pm}\mu^{\mp}$, $e^{\pm}\mu^{\mp}$)，同时提取$p\bar{p} \to t\bar{t}$, $p\bar{p} \to W^+W^-$, 和$p\bar{p} \to Z \to \tau^+\tau^-$的生产横截面，碰撞中心质能为$\sqrt{s} = 1.96$ TeV。我们对双电子数据进行似然拟合，参数空间由失能横向能量和事件中喷气数量定义。我们的结果使用CDF II探测器在Fermilab Tevatron Collider上记录的$360 \rm pb^{-1}$数据，结果为$\sigma(t\bar{t}) = 8.5_{-2.2}^{+2.7}$ pb，$\sigma(W^+W^-) = 16.3^{+5.2}_{-4.4}$ pb，和$\sigma(Z \to \tau^+\tau^-) =291^{+50}_{-46}$ pb。