LiYF4:Ho3+中交叉弛豫和声子瓶颈效应对磁化动力学的影响
强关联电子
2009-10-06 v1
摘要
在液氦温度下，测量了稀释顺磁体LiYF:Ho在交流和直流磁场平行于四方晶格对称轴时的动态磁化率的频率和直流磁场依赖性。在Ho基多重态（由S对称性的晶体场分裂）的最低非克拉默斯二重态和第一激发单重态的24个电子-核子能级流形中，基于弛豫率的微观理论对实验数据进行了分析。使用在交换电荷模型框架内计算的电子-声子耦合常数计算了单声子跃迁概率，并通过光学压电光谱测量进行了验证。在电子-核子能级的交叉（反交叉）处，在磁化率的同相和异相分量的场依赖性中观察到的特定特征（分别为凸起和凹陷），当考虑声子瓶颈效应和交叉自旋弛豫时，模拟结果很好地再现了这些特征。
引用
@article{arxiv.0910.0519,
title = {Cross-relaxation and phonon bottleneck effects on magnetization dynamics in LiYF4:Ho3+},
author = {S. Bertaina and B. Barbara and R. Giraud and B. Z. Malkin and M. V. Vanuynin and A. I. Pominov and A. L. Stolov and A. M. Tkachuk},
journal= {arXiv preprint arXiv:0910.0519},
year = {2009}
}