电流驱动畴壁线的蠕变:本征钉扎与非本征钉扎
介观与纳米尺度物理
2009-11-13 v3
摘要
我们提出了一个电流驱动磁畴壁线运动的模型,其中畴壁的动力学等效于各向异性钉扎势中的过阻尼涡旋线。该势既包含由样品不均匀性等引起的非本征贡献,也包含由磁各向异性引起的本征贡献。我们获得了不同钉扎机制下畴壁速度随电流变化的结果。特别是,我们发现表征蠕变区域的指数强烈依赖于耗散自旋转移力矩的存在。我们结合近期关于铁磁半导体中电流驱动畴壁蠕变的实验讨论了我们的结果,并提出了进一步验证我们模型的实验建议。
引用
@article{arxiv.0711.4058,
title = {Creep of current-driven domain-wall lines: intrinsic versus extrinsic pinning},
author = {R. A. Duine and C. Morais Smith},
journal= {arXiv preprint arXiv:0711.4058},
year = {2009}
}
备注
For figure in GIF format, see http://www.phys.uu.nl/~duine/mapping.gif v2: (hopefully) visible EPS figure added. v2: expanded new version