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复规范微子质量引起的标量电子衰变宽度差异中的CP破坏

高能物理 - 唯象学 2009-09-01 v1

摘要

我们在软破缺超对称标准模型中计算了标量电子衰变的宽度差异,Γ(e~LeLω)Γ(e~ˉLeˉLω)\Gamma(\tilde e_L \to e_L\omega) - \Gamma({\bar{\tilde e}}_L \to \bar e_L\omega)。CP不对称性假设来源于复规范微子质量。即使在电子质量mem_e为零的极限下,该差异也可达到α\alpha的量级。

关键词

引用

@article{arxiv.hep-ph/9808252,
  title  = {CP Violation in the Width Difference of the Scalar Electron Decay due to Complex Gaugino Masses},
  author = {Fred J. Browning and Darwin Chang and Wai-Yee Keung},
  journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ph/9808252},
  year   = {2009}
}

备注

7 pages, 2 figs. LaTeX