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单层及堆叠金属屏异常透射的耦合波表面阻抗分析

光学 2015-06-04 v3

摘要

本文提出了一种高效的耦合波表面阻抗方法,用于分析在正入射和斜入射条件下(包括可能的介质夹层),电磁波穿过单层及堆叠的实际金属屏时的异常光学透射(EOT)。所提出的理论适用于已报道 EOT 现象的整个频率范围,包括微波和光学频段。电磁仿真验证了该模型的结果,该方法能够对待分析结构进行快速且精确的表征。

关键词

引用

@article{arxiv.1204.2426,
  title  = {Coupled-wave surface-impedance analysis of extraordinary transmission through single and stacked metallic screens},
  author = {Vicente Delgado and Ricardo Marqués and Lukas Jelinek},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1204.2426},
  year   = {2015}
}