HII区丰度测定的“对应体”方法

我们提出了一种利用强发射线测定HII区丰度和电子温度的新方法。该方法基于一个标准假设：具有相似强发射线强度的HII区具有相似的物理性质和丰度。通过比较精心选择的强线强度组合，可以在丰度已被精确测定的HII区（参考HII区）中为待研究HII区选取一个“对应体”。然后可以假定待研究HII区的丰度与其对应体相同。换言之，我们建议“依先例”确定HII区的丰度。为了获得更可靠的丰度，我们选取多个参考HII区，然后通过外推/内插来估计目标HII区的丰度。我们将这种丰度测定方法称为对应体方法，或简称为C方法。我们定义了一个参考HII区样本，并验证了C方法的有效性。我们发现该方法能产生可靠的丰度。最后，我们使用C方法获得了旋涡星系M83、NGC4625和NGC 628延展盘的径向丰度分布。