石墨烯及其他电子晶体膜中电荷不均匀性与结构的关联
材料科学
2016-09-08 v4 介观与纳米尺度物理
超导电性
高能物理 - 理论
核理论
摘要
石墨烯仅有一个原子厚度且不易产生晶格缺陷，代表了终极的晶体膜。然而，其结构展现出在其他晶体膜中未发现的独特特征，特别是存在波长为 100-300 埃的涟漪。在此，我将这种差异的起源追溯至膜中的自由电子。晶格的形变能在电荷涨落与结构之间产生了耦合，导致膜上出现涟漪，且与电荷不均匀性相关联。在石墨烯中，该机制再现了电荷 puddles 和涟漪的实验结果。
引用
@article{arxiv.0903.5012,
title = {Correlation between Charge Inhomogeneities and Structure in Graphene and Other Electronic Crystalline Membranes},
author = {Doron Gazit},
journal= {arXiv preprint arXiv:0903.5012},
year = {2016}
}
备注
Accepted for publication in PRB as Rapid Communication