4U 1705-44相关的计时与光谱行为

我们跟踪中子星低质量X射线二体系统4U 1705-44在不同光谱状态下的计时特性，观测时间约为一个月，数据来自罗斯基X射线时序探测器。我们使用多个洛伦兹函数拟合功率谱，并指出这些洛伦兹函数特征频率在正确辨识后，可落入此前报告的相关性范围内。这些特征频率的时间演化及其与巴雷特与奥布拉（2002）所报告能谱参数的关系，用于约束吸积几何结构的变化。光谱数据拟合为黑体与康普顿化成分之和，并在吸积盘截断几何结构框架下解释，其中截断半径随时间变化。如果假设洛伦兹函数特征频率是截断半径的某种度量（如大多数理论模型所述），则此处报告的计时数据加强了上述解释。软硬态转换明确关联于吸积盘远离与靠近中子星的过程。在转换过程中，洛伦兹频率与黑体的总 flux 与温度之间存在相关性，表明黑体可能来自吸积盘。相反，在硬态下，洛伦兹特征频率最低且基本恒定，尽管光谱参数发生显著演化。此时吸积盘不再贡献X射线辐射，黑体可能来自中子星表面，而该表面为康普顿化提供初始光子。