修正目标样本折射率失配在扩展视场选择性平面照明显微镜中的影响
光学
2024-07-29 v1
摘要
选择性平面照明显微镜（SPIM）是一种基于正交光路的光学剖面成像方法，用于激发和检测。激发路径的光学剖面强度与有效视场（FOV）呈反比。存在多种方法可扩展有效FOV，本文聚焦于通过轴向扫描光表面（remote focusing）来实现这一目标，同步控制CMOS相机的滚动快门。用于成像大型样本的典型轴向扫描SPIM配置采用可调光学元件进行遥距聚焦，搭配浸入高折射率介质中的空气目标镜。为定量探讨遥距聚焦选择及样本空间折射率失配对光表面强度分布的影响，我们开发了集成光线追迹与场传播的计算模型。我们将模型性能验证于实验光表面轮廓，适用于 various SPIM 配置。我们的发现表明，优化样本腔相对于激发光学元件的位置可通过平衡由折射率失配引起的像差来提高图像质量。我们使用自制的大型样本轴向扫描SPIM配置和校准样本验证了这一预测。
关键词
引用
@article{arxiv.2407.18862,
title = {Correcting for objective sample refractive index mismatch in extended field of view selective plane illumination microscopy},
author = {Steven J. Sheppard and Peter T. Brown and Douglas P. Shepherd},
journal= {arXiv preprint arXiv:2407.18862},
year = {2024}
}