基于30.4纳米窄带成像的日冕诊断

以30.4 nm为中心的波段图像通常用于绘制太阳盘上He II Ly α线的辐射亮度。该线是太阳光谱中观测到的极紫外波段中最强的谱线之一（即使不是最强），也是该波长范围内为数不多的提供上色球层或下过渡区信息的谱线之一。然而，在观测临边外日冕时，附近Si XI 30.3 nm线的贡献可能变得显著。本研究旨在估计太阳活动极小期附近日冕中这两条谱线的相对贡献。我们结合2008年8月CDS的测量数据与半经验日冕模型的温度和密度廓线，计算了这两条谱线以及其他代表性日冕谱线（如Mg X 62.5 nm、Si XII 52.1 nm）的辐射亮度。通过考虑从谱线比诊断的量（温度和密度）以及绝对单位的谱线辐射亮度，我们获得了观测与模型之间的总体良好匹配。我们发现，在冕流中从临边上方直至约2 R_Sun处，Si XI线主导He II线；而在30.4 nm窄带成像中，其贡献预计会变小，甚至在超过约2-3 R_Sun的日冕中可忽略不计，具体值强烈依赖于日冕温度廓线。