Sn替代对狄拉克线节点半金属SrIrO$_{3}$与CaIrO$_{3}$的对比效应

钙钛矿型铱酸盐SrIrO$_{3}$与CaIrO$_{3}$是一种受晶体对称性保护的狄拉克线节点半金属，为研究电子关联效应对拓扑半金属的影响提供了有趣的平台。利用脉冲激光沉积在SrTiO$_{3}$(001)衬底上外延生长SrIr$_{1-x}$Sn$_{x}$O$_{3}$与CaIr$_{1-x}$Sn$_{x}$O$_{3}$薄膜，考察了Sn掺杂的效应。随着Sn掺杂，半金属基态转变为绝缘体。降温时，临界掺杂水平以上（$x_{\text{c}} \sim 0.1$）的SrIr$_{1-x}$Sn$_{x}$O$_{3}$的电阻率$\rho (T)$在$T = T_{\text{c}}$处显示出从半金属到弱铁磁绝缘体的明确转变。相比之下，随$x$增大的CaIr$_{1-x}$Sn$_{x}$O$_{3}$的$\rho (T)$量级迅速增加，但在温度依赖关系中未显示金属-绝缘体转变的清晰特征。我们认为，这两种密切相关铱酸盐的对比行为反映了Sn掺杂增强的电子关联与无序效应之间的相互作用。