来自最新LEP/SLC数据对电弱普适参数及顶夸克和希格斯质量的约束

Seiji Matsumoto

doi:10.1142/S0217732395002696

来自最新LEP/SLC数据对电弱普适参数及顶夸克和希格斯质量的约束

高能物理 - 唯象学 2008-11-26 v1

作者: Seiji Matsumoto

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摘要

利用LEP和SLC的最新数据进行了全局分析。研究了电弱普适参数（ $S,T,U$ ）以及标准模型（SM）内顶夸克和希格斯玻色子质量的约束。详细考察了由QCD和QED有效耦合常数 $\alpha_s(\mz)$ 和 $\bar{\alpha}(\mmz)$ 引起的不确定性。尽管 $S$ 的平均值增加到与零一致，但朴素的Technicolor模型因其误差减小而仍不受青睐。在标准模型内，我们得到90%置信水平的约束：对于 $\alpha_s(\mz)=0.116$ 和 $1/\bar{\alpha}(\mmz) =128.72$ ，有 $133\gev<m_t<190\gev$ 和 $10\gev<\mh<440\gev$ 。实验上对 $\zbb$ 顶点形状因子 $\delb(\mmz)$ 的约束在排除大 $m_t(m_t \sim 200\gev)$ 和大 $\mh(\mh \sim 1000\gev)$ 区域方面起着重要作用。如果 $m_t$ 被精确已知，当前电弱数据对希格斯质量给出了相当严格的上限：对于 $m_t=160\, (175)\gev$ 以及上述 $\alpha_s(\mz)$ 和 $\bar{\alpha}(\mmz)$ ，在95%置信水平下 $\mh<140\,(300)\gev\,$ 。

关键词

electroweak parameters S T U parameters top quark mass Higgs mass LEP/SLC data Zbb vertex

引用

@article{arxiv.hep-ph/9411388,
  title  = {Constraints on the electroweak universal parameters and the top and Higgs masses from updated LEP/SLC data},
  author = {Seiji Matsumoto},
  journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ph/9411388},
  year   = {2008}
}

备注

19 pages, uuencoded compressed tar file of LaTeX file and 7 EPS files (uses cite.sty and psfig.sty), PostScript version of complete paper available at ftp://ftp.kek.jp/kek/preprints/TH/TH-418/kekth418.ps.gz

来自最新LEP/SLC数据对电弱普适参数及顶夸克和希格斯质量的约束

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