介电纳米腔的共焦偏振层析成像
光学
2024-12-18 v1
摘要
我们采用偏振层析成像来表征具有亚波长模式限制的介电纳米腔的模态特性。对反射光谱的分析表明，在共焦配置下，Fano线形强烈依赖于偏振，并且对于特定偏振，线形可转变为类洛伦兹峰。对于这种偏振设置，背景在有限频率范围内几乎完全被抑制。这使我们能够识别出这些纳米腔中尚未被实验报道的另一个共振。最后，我们利用对称性禁止的偏振，并令人惊讶地发现，系统的模态共振特征仍然可见。
引用
@article{arxiv.2412.12943,
title = {Confocal polarization tomography of dielectric nanocavities},
author = {Frederik Schröder and Martin P. van Exter and Meng Xiong and George Kountouris and Martijn Wubs and Philip T. Kristensen and Nicolas Stenger},
journal= {arXiv preprint arXiv:2412.12943},
year = {2024}
}