对环境湿度、温度与压强变化引起相位漂移的连续运行干涉仪补偿
仪器与探测器
2019-11-14 v1 等离子体物理
摘要
聚变实验严重依赖通过干涉测量线积分电子密度以实现密度反馈控制。近年来放电时长急剧增加且持续上升，导致环境引起的相位漂移成为一个日益令人担忧的问题，因其会歪曲干涉仪对密度的测量。尤其在较大托卡马克中，由光程长度不受控变化引起的密度控制丧失可能造成灾难性后果。在大型诊断/实验大厅中控制环境参数成本高昂且有时不可行，某些情况下无法对现有装置进行改装。在本报告中，我们提出一种非常廉价（约 100 欧元）、易改装、具备实时能力的相位补偿方案，用于长时间尺度测量色散介质的干涉仪。该方法不限于聚变，可应用于任何测量色散介质的连续测量干涉仪。它已成功应用于 Wendelstein 7-X 密度反馈干涉仪。
引用
@article{arxiv.1911.01883,
title = {Compensation of phase drifts caused by ambient humidity, temperature and pressure changes for continuously operating interferometers},
author = {K. J. Brunner and J. Knauer and J. Meineke and M. Stern and M. Hirsch and B. Kursinski and R. C. Wolf and the W7-X team},
journal= {arXiv preprint arXiv:1911.01883},
year = {2019}
}
备注
11 pages, 5 figures