二维硅层电子结构中存在狄拉克锥的强实验证据
材料科学
2018-11-06 v1
摘要
石墨烯的卓越性质源于其二维（2D）结构，其电子态在布里渊区（BZ）角处呈线性色散，形成狄拉克锥。此后，基于硼、硅、锗、磷、锡和金属二硫属化物的其他二维材料被提出。在此，我们利用低能电子衍射（LEED）、高分辨角分辨光电子能谱（HR-ARPES）和扫描隧道显微镜（STM）对Au(111)上的单硅层进行了实验研究。HR-ARPES数据提供了令人信服的证据，表明基于硅的二维覆盖层是价带中观察到的线性色散特征的来源，其费米速度v_F ~10^(+6) m.s^(-1)与石墨烯相当。STM图像显示了扩展且均匀的畴，为硅烯基光电器件的制备提供了一条可行途径。
引用
@article{arxiv.1811.01291,
title = {Compelling experimental evidence of a Dirac cone in the electronic structure of a 2D Silicon layer},
author = {S. Sadeddine and H. Enriquez and A. Bendounan and P. Das and I. Vobornik and A. Kara and A. Mayne and F. Sirotti and G. Dujardin and H. Oughaddou},
journal= {arXiv preprint arXiv:1811.01291},
year = {2018}
}