结合弱引力透镜层析成像与晕团簇探测暗能量

限制暗能量性质的两种方法是弱引力透镜层析成像和星团计数。利用晕团簇的性质（即团簇的团簇化）可以减少星团质量校准中的不确定性。然而，在单次巡天中，弱引力透镜和晕团簇探测的是相同的密度涨落。我们探讨了这样一个问题：这些信息是否可以被使用两次——一次用于弱引力透镜，然后再次用于晕团簇以校准星团质量——或者联合的暗能量限制是否弱于各自限制的总和。对于像暗能量巡天（DES）这样的巡天，我们发现高红移源星系的宇宙剪切确实与低红移的晕团簇高度相关。令人惊讶的是，这种相关性并未削弱类 DES 巡天的宇宙学限制，事实上，限制略有改善，因为这些相关性本身充当了额外的可观测量。这大大简化了类 DES 巡天的分析：当将弱引力透镜和晕团簇视为独立实验时，联合的暗能量限制（包括星团计数）是准确的，如果不是略微保守的话。我们的发现反映了 Takada 和 Bridle 的研究结果，他们调查了宇宙剪切与星团计数之间的相关性。