Defects4J 基准中的偶然正确性
软件工程
2019-01-31 v4
摘要
当存在缺陷的程序在被触发缺陷的情况下仍产生正确输出时，就会出现偶然正确性 (CC)。研究人员已认识到偶然正确性的负面影响，作者此前进行了一项研究证明其于测试套件中的普遍性。然而，该研究仅限于系统测试以及植入人工缺陷的小型对象。在本文中，我们在 Defects4J 基准的背景下对 CC 进行了更广泛的研究，解决以下研究问题：RQ1：CC 在 Defects4J 中是否普遍？RQ2：CC 是否受 Defects4J 中测试层级影响？RQ3：CC 测试是否在 Defects4J 中引发特殊的感染路径？RQ4：感染是否可能在缺陷方法之内或之外被消除？……
引用
@article{arxiv.1808.09233,
title = {Coincidental Correctness in the Defects4J Benchmark},
author = {Rawad Abou Assi and Chadi Trad and Marwan Maalouf and Wes Masri},
journal= {arXiv preprint arXiv:1808.09233},
year = {2019}
}
备注
To appear in STVR