利用 XP 光谱对大型 Gaia 白矮星样本进行分类与参数化
太阳与恒星天体物理
2023-09-01 v3
摘要
2022 年 7 月发布的最新 Gaia 数据释放 DR3 在早期释放可用产品之外新增了若干重要数据产品,包括径向速度数据、恒星 multiplicity 信息与选定恒星样本的 XP 光谱。虽然常规 Gaia 测光(G、GBP 与 GRP 波段)和天体测量可高置信度识别白矮星,但仅凭此信息难以对恒星参数化并确定白矮星光谱型。XP 光谱与合成测光的可用性为更细致的光谱分类及测量 Gaia 白矮星有效温度与表面重力提供了机遇。Gaia 源 XP 光谱的常规生产施加了 G < 17.6 的星等限制,这将排除大多数白矮星。我们创建了 100,000 个经处理 XP 光谱的高质量白矮星认证目录,星等限制为 G < 20.5。由 XP 光谱为所有这些恒星计算了 Johnson、SDSS 与 J-PAS 中的合成测光,作为 Gaia 合成测光目录——白矮星(GSPC-WD)发布。我们现已取用此目录并应用机器学习技术对所有恒星的 XP 光谱进行分类。随后我们应用带卡方最小化的自动光谱拟合程序,由其测量物理参数(有效温度与 log g),并据此估计白矮星质量与半径。我们呈现了此项工作的结果,展示了能对如此 100,000 颗恒星大样本进行分类与参数化的能力。我们描述了从该数据集可了解的关于白矮星族的信息。我们还探讨了过程中的不确定度及该数据集的局限。
引用
@article{arxiv.2308.05572,
title = {Classification and parameterisation of a large Gaia sample of white dwarfs using XP spectra},
author = {O. Vincent and M. A. Barstow and S. Jordan and C. Mander and P. Bergeron and P. Dufour},
journal= {arXiv preprint arXiv:2308.05572},
year = {2023}
}
备注
20 pages, 11 figures, 3 tables. Submitted to Astronomy & Astrophysics Revised version, including links to the White Dwarf catalogue