CLASH：20个星系团的强透镜、弱透镜剪切与放大数据的联合分析

我们展示了对从CLASH巡天中选出的16个X射线规则和4个高放大率星系团样本的强透镜、弱透镜剪切和放大数据的综合分析。我们的分析结合了16波段HST观测和主要使用昴星团/Suprime-Cam拍摄的宽场多色成像的约束。我们从全部透镜约束的联合分析中重建了单个星系团的表面质量密度剖面，并确定了所有星系团的质量和聚集度。通过与Umetsu等人的CLASH纯弱透镜测量结果比较，我们发现整体质量校准的内部一致性为$\le 5\% \pm 6\%$。对于X射线选择的子样本，我们使用贝叶斯回归方法检验了聚集度-质量关系及其内禀弥散。我们的模型在$M_{200c} \simeq 14\times 10^{14}M_\odot$处给出的平均聚集度为$c|_{z=0.34} = 3.95 \pm 0.35$，内禀弥散为$\sigma(\ln c_{200c}) = 0.13 \pm 0.06$，当考虑到基于X射线形态规则性的CLASH选择函数和投影效应时，这与LCDM预言高度一致。我们还通过叠加X射线选择子样本的单个剖面，导出了整体平均的表面质量密度剖面。叠加质量剖面可以用为尖峰暗物质主导晕所预言的一系列密度剖面模型很好地描述，即NFW、Einasto和DARKexp模型，而单一幂律、有核等温和Burkert密度剖面则不被数据支持。我们表明，包含双晕项的尖峰晕模型与数据的一致性得到改善。对于NFW晕模型，我们在$M_{200c} = 14.1^{+1.0}_{-1.0}\times 10^{14}M_\odot$处测得平均聚集度为$c_{200c} = 3.79^{+0.30}_{-0.28}$，证明了互补分析方法之间的一致性。