Belle II 上的魅族与 $B$ 到魅族衰变

R. Manfredi

Belle II 上的魅族与 $B$ 到魅族衰变

高能物理 - 实验 2023-03-01 v1

作者: R. Manfredi

摘要

我们报道了 Belle II 实验对魅强子寿命的精确测量，以及结合 Belle 与 Belle II 数据对角度 $\gamma$ 的测量。为测量魅强子寿命，我们使用 2019 至 2021 年间在 $\Upsilon(4S)$ 共振附近收集的电子-正电子对撞样本，对应积分亮度最高达 207.2 ${\rm fb^{-1}}$ 。这些结果为世界最佳测定，表明探测器早期性能优异。我们利用结合 Belle 与 Belle II 数据的模型无关 Dalitz 图分析测量角度 $\gamma$ ，总样本量约为 1 ${\rm ab^{-1}}$ 。这是首次联合分析，相较此前的 $B$ 工厂测定有显著改进。

关键词

魅强子寿命角度 gamma Belle II Belle Dalitz 图分析电子-正电子对撞 B 工厂

引用

@article{arxiv.2302.14436,
  title  = {Charm and $B$ to charm decays at Belle II},
  author = {R. Manfredi},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2302.14436},
  year   = {2023}
}

备注

6 pages, 10 figures, Moriond ElectroWeak 2022

Belle II 上的魅族与 $B$ 到魅族衰变

摘要

关键词

引用

备注

相关论文