GeV尺度靶上的带电轻子味破坏

我们研究几GeV下的轻子味破坏过程 $e+ T \to \tau +T'$。该过程可通过将GeV尺度电子或正电子束指向内部或固定靶的实验来研究。我们研究一些低能轻子味破坏相互作用对该过程的影响。我们研究该过程对这些低能轻子味破坏相互作用的灵敏度，并与轻子味破坏的$\tau$衰变过程的灵敏度进行比较。与$\tau$衰变过程相比，该过程提供了另一种利用$e-\tau$转换研究轻子味破坏效应的途径，并且可在世界上许多实验室具备的GeV尺度电子或正电子束设施中寻找。