主注入器上的带电Kaon（CKM）
高能物理 - 实验
2009-10-31 v1
摘要
CKM合作组提议在费米实验室的主注入器上测量稀有K衰变（K+ → π+ ν ν̄）的分支比。我们的目标是能够观察到约100个事件，对应标准模型分支比约为1.0E-10。这意味着我们必须能够将背景减少到几个事件。
引用
@article{arxiv.hep-ex/0009046,
title = {Charged Kaons at the Main Injector (CKM)},
author = {C. Milstene and CKM collaboration},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0009046},
year = {2009}
}
备注
5pages, 7 figures- IV International Conference on Hyperons, Charm & Beauty Hadrons, Valencia, Spain -June 27-2000, Proceeding to be submitted to Nucl.Phys.B. corrected abstract, Authors, subjects