对准双希格斯二重态模型中带电希格斯粒子的唯象学
高能物理 - 唯象学
2015-03-17 v2
摘要
一般双希格斯二重态模型中汤川矩阵在味空间的对准导致树级味改变中性流缺失。除了通常的费米子质量和混合外，对准的汤川结构仅包含三个复参数，这些参数是CP破坏的潜在新来源。对于这些参数的特定值，可以恢复基于离散Z_2对称性的模型的所有已知具体实现。双希格斯二重态模型最显著的特征之一是存在带电标量粒子。在这项工作中，我们讨论了它在低能味改变过程中的主要唯象学后果，并推导了对准双希格斯二重态模型参数的相应约束。
引用
@article{arxiv.1006.0470,
title = {Charged-Higgs phenomenology in the Aligned two-Higgs-doublet model},
author = {Martin Jung and Antonio Pich and Paula Tuzón},
journal= {arXiv preprint arXiv:1006.0470},
year = {2015}
}
备注
46 pages, 19 figures. Version accepted for publication in JHEP. References added. Discussion slightly extended. Conclusions unchanged