产生截面不确定性能否解释宇宙线氟异常

宇宙线（CRs）的稳定次级与初级通量比，以硼碳比（B/C）为代表，是银河系宇宙线传播的主要探针。然而，由 B/C 推断的宇宙线扩散系数所预言的氟硅比（F/Si）显著高于 AMS-02 的最新测量值。这一异常通常被归因于 F 产生截面的不确定性。在本工作中，我们对该解释进行了细致检验。我们考虑了四种不同的截面参数化模型，每个模型均受最新截面数据约束。我们在同一传播框架下对 B/C、F/Si 与截面数据进行了联合拟合。其中两个截面模型具有总体良好的拟合优度，其 $\chi^2/n_{d.o.f.}\sim1$。然而，对于这些模型，截面部分的拟合优度较差，其 $\chi^2_{\rm{cs}}/n_{\rm{cs}}\gtrsim2$。拟合得到的最佳 F 产生截面系统性地大于测量值，而拟合得到的 B 产生截面系统性地低于测量值。这表明 F 异常既难以由截面测量的随机误差解释，也难以由现有截面模型之间的差异解释。我们进而提出，空间依赖扩散模型有助于一致地解释 B/C 与 F/Si。在该模型中，Ne-Si 组的平均扩散系数预期大于 C-O 组。