射电干涉测量中的校准伪影 III：仅相位校准与主波束校正

这是我们研究校准伪影的系列论文的第三篇。当我们使用不完整模型进行校准时，会产生校准伪影（也称为鬼影或虚假源）。在本系列的前两篇论文中，我们开发了一个数学框架，使我们能够研究鬼影机制本身。第二篇论文的一个有趣伴生现象是鬼影成对称对出现。这可能解释了虚假对称化现象。虚假对称化是指虚假源（反鬼影）围绕一个已建模源与一个未建模源对称出现。前两篇论文的分析表明，反鬼影通常非常微弱，特别是在使用大量天线时。这表明虚假对称化将主要发生在几乎不可检测的通量水平上。在本文中，我们表明仅相位校准产生的反鬼影亮度是相位和幅度校准产生的反鬼影亮度的 $N$ 倍（其中 $N$ 表示阵列中的天线数量），并且这个已经很亮的鬼影可以通过主波束校正被进一步放大。